S29GL512S11GHB020 | Cypress Semiconductor

S29GL512S11GHB020
Status: 생산 중

데이터시트

(pdf, 2.33 MB) RoHS PB Free

S29GL512S11GHB020

인증 자동차Y
Density (Mbit)512
Initial Access Time (ns)110
인터페이스Parallel
Interface Frequency (SDR / DDR) (MHz)NA
최대 작동 온도(°C)105
최대 작동 전압(V)3.60
최소 작동 온도(°C)-40
최소 작동 전압(V)2.70
Operating Voltage (V)3
Page Access Time (ns)15
Part FamilyParallel NOR
SeriesGL-S
Tape & ReelN
Temperature Range (Min C to Max C)-40C to +105C

Pricing & Inventory Availability

1-9 unit Price* 10-24 unit Price* 25-99 unit Price* 100-249 unit Price* 250-999 unit Price* 1000+ unit Price*
$12.76 $10.73 $9.57 $8.41 $7.95 $7.42
Availability Quantity Ships In Buy from Cypress Buy from Distributors
Out of Stock 0 Please click here to check lead times

Packaging/Ordering

No. of Pins
56
Package Cross Section Drawing
Package Carrier
TRAY
Package Carrier Drawing / Orientation
Standard Pack Quantity
1
Minimum Order Quantity (MOQ)
260
Order Increment
260
Estimated Lead Time (days)
364
HTS Code
8542.32.0051
ECCN Suball
3A991.B.1.A

Quality and RoHS

Moisture Sensitivity Level (MSL)
Peak Reflow Temp. (°C)
RoHS 준수
Y
무연
Y
Lead/Ball Finish
해당 없음

Device Qualification Reports

FIT/MTBF, ESD (HBM/CDM) and Latch-up data available in the Device Qualification Report.

Last Update: 2017년 5월 16일

기술 문서

애플리케이션 설명 (25)

2021년 4월 05일

제품 변경 고지(PCN) (4)

2020년 4월 23일
Addendum to PCN#165004: Introduction of Die Overcoat for Automotive NOR Flash Memory Products
2020년 4월 14일
Qualification of XMC as an Additional Wafer Fab Site for Automotive GL-S NOR Flash Memory Products
2020년 4월 14일
Serial Number Addition to Top Mark for Select Flash and SRAM Parts at Cypress Bangkok
2020년 4월 07일
Qualification of Tera Probe, Inc. Japan as an Additional Wafer Sort Site for Flash NOR GL01GS and GL512S Product

Advanced Product Change Notice (APCN) (11)

2020년 7월 21일
Q32020 Automotive Horizon Report Update
2020년 4월 23일
Addendum to APCN181801 - Planned Qualification of Tera Probe, Inc. Japan as an Additional Wafer Test (Sort) Site for GL-S Product Family
2020년 4월 22일
Q220 Automotive Horizon Report Update
2020년 4월 14일
Q419 Horizon Report Update
2020년 4월 14일
Q419 Automotive Horizon Report Update
2020년 4월 14일
Q319 Horizon Report Update
2020년 4월 14일
Q319 Automotive Horizon Report Update
2020년 4월 14일
2019 Horizon Report: Q2 Update
2020년 4월 14일
2019 Automotive Horizon Report: Q2 Update
2020년 4월 14일
Addendum to Advance PCN181801A - Planned Qualification of Tera Probe, Inc. Japan as an Additional Wafer Test (Sort) Site for GL-S Product Family
2020년 4월 14일
2019 Annual Automotive Horizon Report

Product Information Notice (PIN) (1)

2020년 4월 14일
Qualification of WXIC, China as an Additional Wafer Foundry Site for 65nm GL-S MirrorBit® Eclipse Flash Memory Products